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  • WD4000晶圓厚度粗糙度三維形貌測量系統

    中圖儀器WD4000晶圓厚度粗糙度三維形貌測量系統通過非接觸測量,將晶圓的三維形貌進行重建,強大的測量分析軟件穩定計算晶圓厚度,TTV,BOW、WARP、在高效測量測同時有效防止晶圓產生劃痕缺陷。自動測量Wafer厚度、表面粗糙度、三維形貌、單層膜厚、多層膜厚。

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    產品價格:3000000
    廠商性質:生產廠家
    更新日期:2025-10-29
  • WD4000復雜結構晶圓幾何量測系統

    WD4000復雜結構晶圓幾何量測系統通過非接觸測量,將晶圓的三維形貌進行重建,強大的測量分析軟件穩定計算晶圓厚度,TTV,BOW、WARP、在高效測量測同時有效防止晶圓產生劃痕缺陷。

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    產品價格:3000000
    廠商性質:生產廠家
    更新日期:2025-10-11
  • WD4000晶圓三維顯微形貌測量設備

    WD4000晶圓三維顯微形貌測量設備自動測量Wafer厚度、表面粗糙度、三維形貌、單層膜厚、多層膜厚。集成厚度測量模組和三維形貌、粗糙度測量模組,使用一臺機器便可完成厚度、TTV、LTV、BOW、WARP、粗糙度、及三維形貌的測量。

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    產品價格:3000000
    廠商性質:生產廠家
    更新日期:2025-09-17
  • WD4000晶圓三維形貌膜厚測量系統

    WD4000晶圓三維形貌膜厚測量系統通過非接觸測量,將晶圓的三維形貌進行重建,強大的測量分析軟件穩定計算晶圓厚度,TTV,BOW、WARP、在高效測量測同時有效防止晶圓產生劃痕缺陷。

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    產品價格:3000000
    廠商性質:生產廠家
    更新日期:2025-09-11
  • WD4000晶圓顯微形貌測量系統

    WD4000晶圓顯微形貌測量系統通過非接觸測量,將晶圓的三維形貌進行重建,強大的測量分析軟件穩定計算晶圓厚度,TTV,BOW、WARP、在高效測量測同時有效防止晶圓產生劃痕缺陷。

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    產品價格:3000000
    廠商性質:生產廠家
    更新日期:2025-08-20
  • WD4000晶圓膜厚測量系統

    WD4000晶圓膜厚測量系統集成厚度測量模組和三維形貌、粗糙度測量模組,使用一臺機器便可完成厚度、TTV、LTV、BOW、WARP、粗糙度、及三維形貌的測量。通過非接觸測量,將晶圓的三維形貌進行重建,強大的測量分析軟件穩定計算晶圓厚度,TTV,BOW、WARP、在高效測量測同時有效防止晶圓產生劃痕缺陷。

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    產品價格:3000000
    廠商性質:生產廠家
    更新日期:2025-08-12
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