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三坐標測量軟件PowerDMIS 在 ISO 1101:2017 線輪廓度公差驗證中的應用
2025-11-03

一、幾何公差二、線輪廓線輪廓度是表示在零件的給定平面上,任意形狀的曲線保持理想形狀的狀況;線輪廓度公差是指非圓曲線的實際輪廓線對理想輪廓線允許的變動量,用于控制零件上的平面曲線的截面輪廓線的形狀誤差;生產中常見零件的非圓曲線有凸輪輪廓線、渦...

  • 2025-06-13

    在當今科技飛速發展的時代,眾多行業正朝著精細化、微型化的方向大步邁進。當芯片上的晶體管小到肉眼不可見,當手機攝像頭鏡片需要納米級平整度,傳統測量工具還能扛得住嗎?在這樣的行業大背景下,SuperViewWT3000復合型光學3D表面輪廓儀創...

  • 2025-06-13

    光路調整是確保國產激光干涉儀精度的關鍵步驟。如果光路未正確調整,可能會導致以下問題:干涉條紋不清晰或不穩定:不良的光路對準會影響干涉圖案的清晰度,進而導致測量結果誤差。信號衰減:光路的錯誤調整可能導致激光強度降低,影響探測器的信號接收,降低...

  • 2025-06-04

    在光學精密加工領域,微納結構元件的三維形貌檢測是保障器件性能的重要環節。以微透鏡陣列、衍射光學元件為代表的精密光學元件,其特征尺寸已突破亞微米量級,對表面輪廓精度與結構面形誤差的檢測要求達到納米級分辨率。若加工過程中產生的邊緣塌陷、周期畸變...

  • 2025-05-26

    測針輪廓儀廣泛應用于表面輪廓測量,主要用于分析工件的表面特性,包括粗糙度、紋理、平整度、形狀誤差等。在進行精準的測量時,探頭的選擇至關重要,因為不同類型的探頭具有不同的測量能力和適應性。不同類型的探頭適用于不同的測量場景。以下是常見的幾種探...

  • 2025-05-23

    晶圓是半導體制造的核心基材,所有集成電路(IC)均構建于晶圓之上,其質量直接決定芯片性能、功耗和可靠性,是摩爾定律持續推進的物質基礎。其中晶圓的厚度(THK)、翹曲度(Warp)和彎曲度(Bow)是直接影響工藝穩定性和芯片良率的關鍵參數:1...

  • 2025-05-23

    在微觀世界的探索之旅中,精準測量材料如同在錯綜復雜的迷宮中尋找出口,是現代制造業和科研領域的關鍵任務。臺階儀、光學輪廓儀和共聚焦顯微鏡,這些看似冰冷的儀器設備,實則是微觀世界的“度量衡”,憑借其技術與性能,為我們解鎖微觀世界的厚度奧秘。Na...

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